(株)ケミトックス 次世代半導体デバイス/材料のパワーサイクル試験と熱抵抗測定サービスのご紹介 2024/12/13(金) | 11:30 - 11:50 Hall5(東5ホール内ステージ)次世代半導体であるSiC,GaNなどがのパワーデバイス信頼性評価の中で重要なパワーサイクル試験について、試験原理および試験規格の概説から実際の試験事例までをご紹介します。また、熱抵抗測定について、パワエレ分野でよく実施される方法を中心に弊社の測定サービスをご紹介致します。